2011年1月14日中共中央、国务院14日上午在人民大会堂隆重举行国家科学技术奖励大会,党和国家领导人胡锦涛、温家宝、李长春、习近平、李克强等出席大会并向获奖代表颁奖。

我校张平教授完成的“TD-SCDMA及其增强型终端一致性测试技术与平台”获2010年国家科学技术进步二等奖，其他获奖人还有姜军、张治、邓钢、李亦农、唐晓晟、王莹、唐恬、马楠、陈杰。

该项目完成了具备高计算能力、高精度和高可靠性的商用仪器平台，达到国际领先水平，使我国在TD及TD-LTE测试技术领域具有重要的国际地位及话语权。其成果已广泛应用于TD及其增强型终端在不同TD网络环境下的各种测试，是产业链的关键环节，已经产生了巨大的社会和经济效益。由多位院士和行业专家参加的对项目鉴定意见为“发现并协助解决了TD终端商用化过程中出现的重大工程技术问题，促进了TD-SCDMA终端产业化进程，是我国在无线通信高端测试技术与仪器仪表领域的重大突破，填补了TD-SCDMA产业链中的空白”。在TD终端的进网测试、型号核准、芯片研发、终端设计制造等部门发挥了不可替代的作用，提升了我国通信行业科学技术水平。